2025 年 3 月 26 日- 28 日，為期三天的 2025 慕尼黑上海電子生產(chǎn)設(shè)備展（productronica China）圓滿落幕。鐳晨科技深耕工業(yè)光學(xué)檢測十余年，以AI工業(yè)大模型技術(shù)為引擎，帶來DIP爐后AO、DIP 3D AOI以及新一代3D AOI和3D SPI。以創(chuàng)新、先進的產(chǎn)品，吸引了眾多觀眾駐足了解。

在電子制造過程中，產(chǎn)品質(zhì)量的檢測是保障生產(chǎn)優(yōu)良的重要環(huán)節(jié)。以汽車制造行業(yè)為例。汽車的特殊工作環(huán)境、安全性和大電流等要求特點，對PCBA的可靠性、穩(wěn)定性等要求非常嚴(yán)苛。但由于元件布局密集或高矮器件的遮擋，在AOI檢測過程中，常規(guī)的2D AOI只能獲取正面圖像，而傳統(tǒng)的3D AOI因顏色算法局限性，以及成像易受干擾，極易出現(xiàn)誤報漏報。

鐳晨科技展出的新一代3D AOI——AIS431，采用側(cè)面多相機3D成像系統(tǒng)，一個投影搭配 4 個相機。無論是側(cè)面絲印還是遮擋器件，結(jié)合側(cè)面圖像，都能獲取更加全面的成像信息。而AI大模型技術(shù)的加持，能有效消除因器件遮擋、光線反射帶來的成像拉尖、塌陷等，獲取更加真實的3D成像，讓新一代3D AOI的檢測能力更上一層樓。

例如爬錫引腳的檢測。傳統(tǒng)AOI通過向物體投射不同角度的摩爾條紋光被主相機接收，由于引腳密集、光線受影響，導(dǎo)致出現(xiàn)過渡擬合的問題，引腳成像不全面，極易出現(xiàn)誤報?，F(xiàn)在，結(jié)合多個側(cè)面圖像，我們可以獲取更多視角的圖像信息，結(jié)合AI算法剔除噪聲，保留引腳爬錫坡度的細(xì)節(jié)，為不良檢測夯實基礎(chǔ)。

新一代3D AOI在上海慕尼黑展會一經(jīng)展出，便吸引了眾多觀眾現(xiàn)場體驗，“我們的產(chǎn)品工藝越來越復(fù)雜，之前試用過很多3D AOI，都很難滿足我們?nèi)娴臋z測需求。鐳晨新一代3D AOI采用了多側(cè)面相機，成像更全面、檢測速度更快，今天過來展會真是收獲驚喜”！

除了SMT段的3D AOI，鐳晨科技搭載了上照2D檢測、下照3D檢測的DIP 3D AOI，在展會現(xiàn)場也是備受矚目。DIP 3D AOI——AIS550 能同時進行元件2D檢測以及底面焊點引腳長度、錫珠等3D檢測，滿足工廠愈加精細(xì)化的插件檢測需求。此外，鐳晨科技也研發(fā)出下照式3D以及雙面3D檢測AOI，滿足企業(yè)更柔性化的檢測場景，快速響應(yīng)細(xì)分領(lǐng)域的不同檢測需求。

當(dāng)下，電子制造行業(yè)正處于持續(xù)變革的浪潮之中。對于工業(yè)視覺檢測設(shè)備廠商而言，唯有達成技術(shù)的全方位突破，推動產(chǎn)品能力創(chuàng)新迭代，才能契合不斷演變的市場需求。鐳晨科技始終秉持創(chuàng)新精神，以技術(shù)創(chuàng)新為根基，不斷突破行業(yè)技術(shù)瓶頸，實現(xiàn)產(chǎn)品的有效迭代，深刻踐行“做較好用的AOI”的使命，為電子制造行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展貢獻力量。

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